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論文・解説等
- 【講 演要旨「XPS によるⅣ族半導体材料における深さ方向組成分布の評価事例」，表面分析研究懇談会（2015年6月18～19 日、（株）島津製作所秦野工場），pp.6-1～9，PDF（約940KB）, DOI: 10.13140/RG.2.1.2125.3284】
- 【Paper: "Depth Profiling of Group-IV Semiconductor Materials by X-Ray Photoelectron Spectroscopy (in Japanese)", Surface Analysis Research Conversazione (SHIMADZU CORPORATION), Hadano, Japan, Jun. 18-19, 2015, pp.6-1 - 6-9, PDF（約940KB）, DOI: 10.13140/RG.2.1.2125.3284】- 【研究プロジェクトの紹介：「IV族半導体量子ヘテロ構造高集積化プロセスの研究開発」】
- 【Introduction of Research Project: "Research and Development of Group IV Quantum Heterointegration Processing"】半導体工学関連(Semiconductor Related)
（なかなか教科書に載っていない話）
- 【ペンタグラフェン（ペンタシリセン）の模型試作 Penta-Graphene (Penta-Silicene) Model】
- 【Peak Fitting EXCEL File (Lorentz Type)】
- 【Peak Fitting EXCEL File (Gasuss Type)】
- 【二重障壁(Double Barrier)RTDの透過率(Transmittance)計算エクセルファイル】
- 【電子軌道と結合エネルギー・光イオン化断面積 (Binding Energy and Photo Ionization Cross Section for ESCA) (Word版）】
- 【電子軌道と結合エネルギー・光イオン化断面積 (Binding Energy and Photo Ionization Cross Section for ESCA)（pdf版）】
- 【Siウェハオフ角(Wafer Off Angle)とRHEEDパターンとの 関係】
- 【光電子分光法による深さ方向プロファイル測定(Equations for Depth Profile Measurement by XPS and Etchig)】
実験装置関連
- 【高圧ガスボンベ爆発事故例 －急激なバルブ操作の危険性について】
実験施設関連
PCソフト＆ハード・Windows関連
- 【BitLockerドライブ暗号化によるファイル保護に関するメモ】
- 【Dell Inspiron 1501へのWindows 10インストール手順のメモ】
- 【レッツノートCF-S10へのWindows 10インストール手順のメモ】
- 【学術ソフトのダウンロードサ イト・論文検索サイトのメモ】
- 【Windows PCの動作が徐々に重くなる問題への対処法のメモ】
- 【Windows XP SP3 をインストールした後、Windows Update、Microsoft Update、または自動更新で更新プログラムが正常にインストールされない問題への対処法】
- 【Googleで特定の単語をWeb検索するとブラ ウザが強制終了する問題への対処法（AVG 8をインストールしている場合）】
- 【活図のグラフのフォントがPPTやPhaser等で変わってしまう場合の対処法】